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产品展示

Product Demonstration

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微波器件高加速寿命偏压老化测试系统(Hast)

符合标准:

AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等标准。

适用范围:

适用于各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件进

行温湿度下反偏试验 。

技术特点:

每颗器件的Vgs独立控制。

实时监测每个试验器件的Id、Ig。

控制上、下电时序。

全过程试验数据保存于硬盘中,可输出Excel

试验报表和绘制全过程漏电流IR变化曲线。



技术性能

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